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9031.8090

少子寿命测试仪

该WT-1000B型单点少子寿命测试仪以微波光电导衰减法测试被检材料的电导率变化，判断半导体硅材料的少数载流子寿命。用来快速、无接触、无损伤判断硅棒、硅锭、硅片等半导体材料的等级、缺陷等性质。少子测试仪测试过程：用固定波长的光照射被测材料表面，激发材料内的少数载流子。然后用微波照射被测材料，接收反射波。如材料内有载流子活动，则反射波会有频率变化。根据反射波频率变化又恢复所经历的时间差，得出少子寿命（单位为秒）。因为光激发和微波反射只能在材料较浅的表面层进行，所以该设备只能测出材料表面的性能参数，不能深入材料内部。

该少子寿命测试仪通过微波光电导衰减法测试被检材料的电导率变化，判断半导体硅材料的少数载流子寿命。其检测对象虽为半导体材料内的少数载流子，但检测结果为少子的寿命（单位为秒），而非电量，不符合《税则》税目90.30的商品描述。该商品在《税则》第九十章其他税目中没有列名，符合税目90.31的商品描述，根据归类总规则一及六，应将其按其他测量或检验仪器归入税则号列9031.8090。

Z2009-078

2009年1月20日